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美国CID CI-710叶片光谱探测仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱。
美国CID CI-710叶片光谱探测仪产品简介：
•CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱
•通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化
•直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段
美国CID CI-710叶片光谱探测仪产品特点：
•非常便携，适合于室内或野外使用
•非破坏性地测量叶片在400~950nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率
•扫描速度快，灵敏度高
•USB接口连接UMPC数据处理终端
•样品类型，叶片或扁平的物体
美国CID CI-710叶片光谱探测仪标准配置：
•光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。
美国CID CI-710叶片光谱探测仪技术参数：
| 测量方式： | 非破坏性测量叶片 |
| 测量光谱： | 叶片透射、吸收和反射光谱 |
| 样品类型： | 叶片或扁平的物体 |
| 检测器： | CCD线性阵列探测器 |
| 扫描波长范围： | 400～950 nm |
| 采样速度： | 3.8ms-10s |
| 光偏离： | ＜0.05%在600nm;0.10%在435nm |
| 分辨率： | 0.3～10.0nm FWHM |
| 采样直径： | 7.6 mm |
| 线性修正： | >99.8% |
| 配有CI-700LP叶夹 | |
| 尺寸： | 89.1 x 63.3 x 34.4 cm |
| 重量： | 290g |
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